จีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. แผนผังเว็บไซต์



บ้าน

เกี่ยวกับเรา

โปรไฟล์บริษัท

ทัวร์โรงงาน

การควบคุมคุณภาพ

คำถามที่พบบ่อย

สินค้า

หน่วยวัดแหล่งที่มา

เครื่องวัดแหล่งช่องสอง

อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง

พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง

แหล่งพลังงานความดันสูง

การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์

การ์ดรับข้อมูล

ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา

โซลูชั่น

วิดีโอ

บล็อก

ติดต่อเรา

อ้าง

บ้าน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. แผนผังเว็บไซต์

Company

วิดีโอ

เกี่ยวกับเรา

ติดต่อเรา

บล็อก

โซลูชั่น

สินค้า

หน่วยวัดแหล่งที่มา

S300 DC SMU หน่วยวัดแหล่ง 300V 1A สําหรับการทดสอบลักษณะไฟฟ้า

30V 3A หน่วยวัดแหล่งแม่นยําสูง S100B DC SMU หน่วยทดสอบครึ่งตัวนํา

การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา SMU หน่วย S100 DC 30V 1A SMU การวัด

S200 หน่วย SMU ความละเอียดสูง 100V 1A สําหรับการทดสอบผลประกอบการไฟฟ้า

HCP200 High Current SMU Measurement Pulse Source Measurement Unit สําหรับโมดูลเซลล์แสงอาทิตย์

100V 100A SMU หน่วยวัด ไฮคอเรนท์ ปั๊มแหล่งวัด HCP300 สําหรับ IGBT

เครื่องวัดแหล่งช่องสอง

30V 30A หน่วยวัดแหล่งแหล่งสองช่อง DP100B ด้วยการวัดแรงดัน / กระแส

เครื่องวัดแหล่งแหล่งแบบสองช่อง 100V 30A DP200B

300V 30A หน่วยวัดแหล่งสอง DP300B SMU การวัดสําหรับการทดสอบลักษณะไฟฟ้า

อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง

100V 1A PXI แหล่งหน่วยวัด Single Channel Sub Card DC SMU หน่วย CS200

ช่องเดียว PXI SMU 30V 1A Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS100

1010C หน่วย SMU หลายช่องสําหรับการทดสอบครึ่งตัวนําและคุณลักษณะวัสดุ

3 สล็อต Sub Card Plug ใน SMU หน่วย 1003C หน่วยวัดแหล่ง

4 ช่องทาง เครื่องมือแห่งชาติ SMU 10V 500mA Sub Card DC Source Measure CS401

พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง

300A 30V แรงไฟฟ้าแรงกระแทก แหล่งไฟฟ้ากระแสสูง HCPL030 สําหรับ SiC IGBT GaN HEMT Test

1000A 18V ไฟแรงสูง แหล่งไฟฟ้าปริมาณกระแทก HCPL100 แหล่งไฟฟ้าที่สามารถเขียนโปรแกรมได้

แหล่งพลังงานความดันสูง

2200V 100mA แหล่งไฟฟ้าความดันสูง E200 แหล่งไฟฟ้าความดันคง

3500V/100mA แหล่งไฟฟ้าความดันสูง E300 เครื่องวัดแหล่งความดันสูง

8000V 40mA แหล่งพลังงานความดันสูง E800 สําหรับ SiC / IGBT / GaN HEMT Test

1200V 100mA หน่วยวัดแหล่งพลังงานความดันสูง สําหรับการทดสอบความดันการหลุด IGBT

การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์

20A CW / 20A QCW การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL002 แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ไดโอด์พลังงานสูง

HCPL006 ไฟฟ้าเลเซอร์ไดโอเดส 60A CW/60A QCW การทดสอบ ไฟฟ้าเลเซอร์

60A CW / 600A QCW การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060 แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ไดโอเดส

การ์ดรับข้อมูล

2MS/S Multi Channel Pxi SMU การ์ดรับข้อมูลความเร็วสูง A400B การ์ด Daq ความเร็วสูง

1MS/S A400 การ์ดรับข้อมูล 4 ช่อง 16 บิต ADC การ์ด Daq

ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา

1200V/100A เครื่องวิเคราะห์พาราเมตรครึ่งตัวนํา SPA6100 ระบบทดสอบครึ่งตัวนํา

ระบบทดสอบ C-V ของอุปกรณ์ครึ่งนํา 10Hz-1MHz

ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS อุปกรณ์ทดสอบครึ่งตัวนํา

LDBI ระบบทดสอบครึ่งตัวนําแบบเลเซอร์เก่า ระบบทดสอบหลายช่อง

10kV/6000A Power Device Analyzer การทดสอบสแตตติก PMST สําหรับ Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semiconductor

1 2 3 4