Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
คุณภาพ หน่วยวัดแหล่งที่มา, เครื่องวัดแหล่งช่องสอง ผู้ผลิตจากจีน
เครื่องมือที่แม่นยํา แหล่งค้นหา ความสอดคล้องภายในและภายนอก
February 17, 2025
โดยมีหน่วยวัดแหล่งเป็นแกนหลัก โดยเน้นการทดสอบครึ่งประสาทพลังงาน
ปราแกมติก
น่าเชื่อถือ
การเศรษฐกิจ
รองรับได้
อัจฉริยะ
มาตรฐาน
น่าตื่นเต้น
ปราแกมติก
น่าเชื่อถือ
การเศรษฐกิจ
รองรับได้
อัจฉริยะ
มาตรฐาน
น่าตื่นเต้น
วิดีโอที่นิยม
-
01:24
![เครื่องมือที่แม่นยํา แหล่งค้นหา ความสอดคล้องภายในและภายนอก]()
เครื่องมือที่แม่นยํา แหล่งค้นหา ความสอดคล้องภายในและภายนอก
February 17, 2025 -
00:36
![30V/1A การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา เครื่องวัดแหล่ง DC S100]()
30V/1A การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา เครื่องวัดแหล่ง DC S100
February 24, 2025 -
00:34
![LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง]()
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
February 26, 2025 -
00:24
![300V/4A/30A หน่วยวัดแหล่งกระแทก P300B สําหรับครึ่งตัวนําและวัสดุ]()
300V/4A/30A หน่วยวัดแหล่งกระแทก P300B สําหรับครึ่งตัวนําและวัสดุ
February 24, 2025 -
00:24
![พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test]()
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
February 25, 2025 -
00:24
![1200V/100mA แหล่งพลังงานความดันสูงสําหรับการทดสอบความดันการหลุด IGBT]()
1200V/100mA แหล่งพลังงานความดันสูงสําหรับการทดสอบความดันการหลุด IGBT
February 25, 2025 -
00:24
![เครื่องวัดแหล่งไฟฟ้าแบบสองช่อง 300V/30A DP300B สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าต่าง ๆ]()
เครื่องวัดแหล่งไฟฟ้าแบบสองช่อง 300V/30A DP300B สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าต่าง ๆ
February 24, 2025
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
-
00:34
![LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง]()
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
February 26, 2025 -
00:24
![ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS]()
ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS
February 26, 2025 -
00:30
![10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์]()
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
February 26, 2025 -
00:36
![เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100]()
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
February 26, 2025
วิดีโอ ล่าสุด
-
00:34
![LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง]()
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
February 26, 2025 -
00:24
![ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS]()
ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS
February 26, 2025 -
00:30
![10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์]()
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
February 26, 2025 -
00:36
![เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100]()
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
February 26, 2025 -
00:27
![2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง]()
2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง
February 26, 2025 -
00:24
![การ์ดรับข้อมูล A400 ด้วยความละเอียด ADC 16 บิต และอัตราการเก็บตัวอย่าง 1 MS/s]()
การ์ดรับข้อมูล A400 ด้วยความละเอียด ADC 16 บิต และอัตราการเก็บตัวอย่าง 1 MS/s
February 26, 2025 -
00:24
![60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060]()
60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060
February 25, 2025
