ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น เว็บไซต์

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100

ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
Keyword: ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
ติดต่อเรา
แท็ก:
#การทดสอบทรานซิสเตอร์ igbt #igbt mosfet tester เครื่องทดสอบ #เครื่องติดตามเส้นโค้งครึ่งตัว
Video Description:
Discover the 1200V/100A Semiconductor Parameter Analyzer SPA6100, a high-precision test system for DC I-V, C-V, and pulsed I-V measurements. With a modular design, it supports 1200V voltage, 100A current, and 1pA resolution, ideal for advanced semiconductor testing.
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง 00:34

LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS 00:24

ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์ 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300 00:24

300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200 00:24

100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา 00:24

เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V 00:24

หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025