ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น เว็บไซต์

20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002

การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
ติดต่อเรา
Video Description:
ดูภาพรวมนี้เพื่อดูว่า Wuhan Precise Instrument เข้าใกล้การทดสอบเลเซอร์กำลังสูงอย่างไร ในวิดีโอนี้ เราจะอธิบาย HCPL002 ซึ่งเป็นแหล่งจ่ายไฟเลเซอร์ทดสอบกำลังสูง 20A CW / 20A QCW และแสดงให้เห็นว่ามันเข้ากับขั้นตอนการทดสอบประสิทธิภาพทางไฟฟ้าของเซมิคอนดักเตอร์จริงได้อย่างไร คุณจะเห็นบทบาทของเครื่องมือในอุปกรณ์กำลังและการตั้งค่าการทดสอบอายุด้วยเลเซอร์ เรียนรู้ว่าอุปกรณ์รองรับการควบคุมกระแสและแรงดันไฟฟ้าที่แม่นยำได้อย่างไร และทำความเข้าใจว่าเหตุใดการทดสอบที่บูรณาการและมีประสิทธิภาพสูงจึงมีความสำคัญสำหรับวัสดุเซมิคอนดักเตอร์ เวเฟอร์ และอุปกรณ์รุ่นที่สาม เหมาะสำหรับวิศวกร นักวิจัย และผู้เชี่ยวชาญด้าน B2B ที่กำลังประเมินโซลูชันการทดสอบที่เชื่อถือได้
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
60A CW/60A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL006 00:24

60A CW/60A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL006
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300 00:24

300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200 00:24

100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา 00:24

เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V 00:24

หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100 00:36

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์ 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025