ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น เว็บไซต์

300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300

อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
Keyword: อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
ติดต่อเรา
แท็ก:
#หน่วย Smu #pxi SMU #PXI หน่วยวัดแหล่ง
Video Description:
Discover the 300V/1A Single-channel Sub Card DC Source Measure Unit CS300, a high-precision modular SMU designed for semiconductor and nanomaterial testing. With 300V/1A output, four-quadrant operation, and seamless host integration, it ensures accuracy in complex test scenarios.
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
10V/500mA หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI401 00:24

10V/500mA หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI401
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
18V/1A 4 ช่อง Sub Card แหล่งวัดแรงกระแทก CBI403 00:28

18V/1A 4 ช่อง Sub Card แหล่งวัดแรงกระแทก CBI403
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100 00:36

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 25, 2025
ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS 00:24

ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 25, 2025
S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า 00:24

S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
1200V/100mA แหล่งพลังงานความดันสูงสําหรับการทดสอบความดันการหลุด IGBT 00:24

1200V/100mA แหล่งพลังงานความดันสูงสําหรับการทดสอบความดันการหลุด IGBT
แหล่งพลังงานความดันสูง
February 24, 2025
1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์ 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 25, 2025
เครื่องวัดแหล่งไฟฟ้าแบบสองช่อง 30V/30A DP100B พร้อมการวัดแรงดัน/กระแสไฟฟ้าและการทํางาน 4 ด้าน 00:24

เครื่องวัดแหล่งไฟฟ้าแบบสองช่อง 30V/30A DP100B พร้อมการวัดแรงดัน/กระแสไฟฟ้าและการทํางาน 4 ด้าน
เครื่องวัดแหล่งช่องสอง
February 24, 2025