ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
การพูดคุย ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น Website

ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS

ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
Category Connection: ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
การพูดคุย ติดต่อเรา
นําเสนอระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแสไฟฟ้า 1000A CTMS เป็นแพลตฟอร์มที่ครบวงจรสําหรับการวัดปริมาตรสแตติกและไดนามิกของเซ็นเซอร์กระแสไฟฟ้าต่าง ๆ ที่มีลักษณะกระแสไฟฟ้าสูงขอบสูงเร็ว, และการวัดที่แม่นยํา เหมาะสําหรับการวิจัยมหาวิทยาลัย, ห้องปฏิบัติการ, และการใช้งานอุตสาหกรรม, ยินดีต้อนรับการเยี่ยมชมเว็บไซต์ของเรา!
แท็ก:
#การทดสอบทรานซิสเตอร์ igbt #igbt mosfet tester เครื่องทดสอบ #เครื่องติดตามเส้นโค้งครึ่งตัว
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง 00:34

LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์ 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 25, 2025
18V/1A 4 ช่อง Sub Card แหล่งวัดแรงกระแทก CBI403 00:28

18V/1A 4 ช่อง Sub Card แหล่งวัดแรงกระแทก CBI403
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
เครื่องมือที่แม่นยํา แหล่งค้นหา ความสอดคล้องภายในและภายนอก 01:24

เครื่องมือที่แม่นยํา แหล่งค้นหา ความสอดคล้องภายในและภายนอก
วิดีโออื่น ๆ
February 17, 2025
2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง 00:27

2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 26, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
3500V/100mA แหล่งพลังงานความดันสูง E300 00:24

3500V/100mA แหล่งพลังงานความดันสูง E300
แหล่งพลังงานความดันสูง
February 25, 2025
การ์ดรับข้อมูล A400 ด้วยความละเอียด ADC 16 บิต และอัตราการเก็บตัวอย่าง 1 MS/s 00:24

การ์ดรับข้อมูล A400 ด้วยความละเอียด ADC 16 บิต และอัตราการเก็บตัวอย่าง 1 MS/s
การ์ดรับข้อมูล
February 26, 2025
S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า 00:24

S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025