LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง

ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา

February 26, 2025

Category Connection: ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา

การพูดคุย ติดต่อเรา

การนําเสนอระบบ LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ที่ออกแบบมาเพื่อทดสอบชิปเลเซอร์ครึ่งตัวนําพลังงานสูงระดับกิโลวัตต์ และโมดูลเลเซอร์ปั๊มมีกระแสไฟฟ้าสูง กระแสไฟฟ้าแคบกระแสไฟฟ้าคงที่,กระแสไฟฟ้าคงที่ ความสามารถต่อต้านการแทรกแซงที่แข็งแกร่ง และวงจรป้องกันแบบคู่ มี 16 ช่องทางอิสระและอุปกรณ์เก็บแสงที่เย็นด้วยน้ํา เหมาะสําหรับการทดสอบอุปกรณ์พลังงานครึ่งตัวนําการวิจัยวัสดุและการทดสอบส่วนประกอบของอิเล็กทรอนิกส์พลังงานรถยนต์พลังงานใหม่ยินดีต้อนรับสู่เว็บไซต์ของเรา

แท็ก:

#การทดสอบทรานซิสเตอร์ igbt #igbt mosfet tester เครื่องทดสอบ #เครื่องติดตามเส้นโค้งครึ่งตัว

LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง

LDBI ระบบทดสอบครึ่งตัวนําแบบเลเซอร์เก่า ระบบทดสอบหลายช่อง

1200V/100A เครื่องวิเคราะห์พาราเมตรครึ่งตัวนํา SPA6100 ระบบทดสอบครึ่งตัวนํา

ระบบทดสอบ C-V ของอุปกรณ์ครึ่งนํา 10Hz-1MHz

ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS อุปกรณ์ทดสอบครึ่งตัวนํา

10kV/6000A Power Device Analyzer การทดสอบสแตตติก PMST สําหรับ Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semiconductor

ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์

1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test

18V/1A 4 ช่อง Sub Card แหล่งวัดแรงกระแทก CBI403

เครื่องมือที่แม่นยํา แหล่งค้นหา ความสอดคล้องภายในและภายนอก

2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402

3500V/100mA แหล่งพลังงานความดันสูง E300

การ์ดรับข้อมูล A400 ด้วยความละเอียด ADC 16 บิต และอัตราการเก็บตัวอย่าง 1 MS/s

S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า