30V/1A การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา เครื่องวัดแหล่ง DC S100

หน่วยวัดแหล่งที่มา

February 24, 2025

Category Connection: หน่วยวัดแหล่งที่มา

การพูดคุย ติดต่อเรา

นําเสนอ S100 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 30V / 1A ที่ใช้ในการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนําด้วยคุณสมบัติ เช่น การประกันการวัดความแม่นยํา, การทํางานทั้งหมดในหนึ่ง, ความละเอียดสูง, การทํางานสี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่สี่การวิจัยและการศึกษา, และระบบการทดสอบอัตโนมัติ, ยินดีต้อนรับสู่เว็บไซต์ของเรา!

แท็ก:

#หน่วยวัดแหล่ง #หน่วยวัดแหล่งแม่นยํา #หน่วย SMU การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา

30V/1A การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา เครื่องวัดแหล่ง DC S100

การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา SMU หน่วย S100 DC 30V 1A SMU การวัด

เครื่องวัดแหล่งผลักดัน P300 300V 1A 10A เครื่องวัดแหล่ง

30V 4A 30A หน่วยวัดแหล่งกระแทก P100B เครื่องวัดแหล่งสําหรับอุปกรณ์ครึ่งนํา

หน่วยวัดแหล่งครึ่งตัวนํา 100V 1A 10A เครื่องวัดแหล่งกระแทก P200

30V 1A 10A P100 เครื่องวัดแหล่งสี่ภาคปฏิบัติการ เครื่องวัดแหล่งแรง

2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง

1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test

S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า

การ์ดรับข้อมูล A400 ด้วยความละเอียด ADC 16 บิต และอัตราการเก็บตัวอย่าง 1 MS/s

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์

LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง

18V/1A 4 ช่อง Sub Card แหล่งวัดแรงกระแทก CBI403

เครื่องมือที่แม่นยํา แหล่งค้นหา ความสอดคล้องภายในและภายนอก

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402