18V/1A 4 ช่อง Sub Card แหล่งวัดแรงกระแทก CBI403
นําเสนอ CBI403 เป็นหน่วยวัดแหล่งผลักดันแรงดันสี่ช่อง ที่มีความแม่นยําสูงเครื่องประกอบการด้วยเครื่องประกอบการ 4 ด้าน, รูปแบบการทดสอบสองแบบ, และความหนาแน่นช่องทางสูง, เหมาะสําหรับการรับรองระดับแผ่น semiconductor และการทดสอบความเครียดคู่หลายอุปกรณ์, ยินดีต้อนรับการเยี่ยมชมเว็บไซต์ของเรา!
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
-
18V 1A สี่ช่อง Sub Card แรงกระแทกแหล่งวัดหน่วย CBI403 SMU การวัด
ติดต่อตอนนี้ -
10V 500mA PXI แหล่งหน่วยวัด Sub Card พลัส PXI SMU หน่วย CBI401
ติดต่อตอนนี้ -
10V 1A PXI SMU 4 ช่อง Sub Card พลัส SMU แหล่งวัดหน่วย CBI402
ติดต่อตอนนี้ -
18V 1A PXI SMU สี่ช่อง Sub Card DC แหล่งวัดหน่วย CS402
ติดต่อตอนนี้ -
Sub Card PXI SMU Unit 10V 200mA สําหรับการทดสอบอัตราการทํางานสูงในสภาพแวดล้อมปานกลาง
ติดต่อตอนนี้
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
30V / 1A / 10A การทดสอบครึ่งประสาท การดําเนินงานสี่สี่แควดาน เครื่องวัดแหล่งกระแทก P100
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
100V/100A หน่วยวัดแหล่งกระแทกกระแสไฟฟ้าแรงสูง HCP300 สําหรับ IGBT
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
เครื่องวัดแหล่งไฟฟ้าแบบสองช่อง 300V/30A DP300B สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าต่าง ๆ
เครื่องวัดแหล่งช่องสอง
February 24, 2025
S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
การ์ดรับข้อมูล A400 ด้วยความละเอียด ADC 16 บิต และอัตราการเก็บตัวอย่าง 1 MS/s
การ์ดรับข้อมูล
February 26, 2025
30V/1A การทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าของครึ่งตัวนํา เครื่องวัดแหล่ง DC S100
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025