ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น เว็บไซต์

10V/200mA เครื่องวัดแหล่ง Sub Card 4 ช่อง CS400 สําหรับการทดสอบความเร็วสูงในสภาพแวดล้อมปานกลาง

อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
Keyword: อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
ติดต่อเรา
แท็ก:
#หน่วย Smu #pxi SMU #PXI หน่วยวัดแหล่ง
Video Description:
Discover the CS400 Sub Card PXI SMU Unit, a high-density, multi-channel Source Measure Unit designed for high-throughput parallel testing. With four independent channels per module and compatibility with CS-series hosts, it supports up to 40 synchronized channels, enhancing efficiency and reducing costs in mass production environments.
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
10V/500mA หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI401 00:24

10V/500mA หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI401
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 25, 2025
10V/500mA สี่ช่อง Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS401 00:26

10V/500mA สี่ช่อง Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS401
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา 00:24

เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V 00:24

หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100 00:36

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์ 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025