18V/1A สี่ช่อง Sub Card Source DC หน่วยวัด CS402
นําเสนอ CS402 เป็นโซลูชั่น SMU แบบโมดูลสําหรับการทดสอบอุปกรณ์ปริมาณสูง โดยมีช่อง 4 ช่องต่อบัตรย่อยและควบคุมร่วมกันได้ถึง 40 ช่อง ลดต้นทุนการบูรณาการระบบ 50%ด้วยการบูรณาการซอฟต์แวร์แบบยืดหยุ่น, การร่วมกันสี่ช่อง และการวัดความแม่นยํา มันถูกปรับปรุงให้เหมาะกับฉากที่มีความเร็วสูง ยินดีต้อนรับเข้าชมเว็บไซต์ของเรา
หน่วยวัดแหล่งที่มา
-
18V 1A PXI SMU สี่ช่อง Sub Card DC แหล่งวัดหน่วย CS402
ติดต่อตอนนี้ -
10V 500mA PXI แหล่งหน่วยวัด Sub Card พลัส PXI SMU หน่วย CBI401
ติดต่อตอนนี้ -
18V 1A สี่ช่อง Sub Card แรงกระแทกแหล่งวัดหน่วย CBI403 SMU การวัด
ติดต่อตอนนี้ -
10V 1A PXI SMU 4 ช่อง Sub Card พลัส SMU แหล่งวัดหน่วย CBI402
ติดต่อตอนนี้ -
Sub Card PXI SMU Unit 10V 200mA สําหรับการทดสอบอัตราการทํางานสูงในสภาพแวดล้อมปานกลาง
ติดต่อตอนนี้
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 25, 2025
S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
เครื่องวัดแหล่งไฟฟ้าแบบสองช่อง 300V/30A DP300B สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าต่าง ๆ
เครื่องวัดแหล่งช่องสอง
February 24, 2025