ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น เว็บไซต์

18V/1A สี่ช่อง Sub Card Source DC หน่วยวัด CS402

หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
Keyword: อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
ติดต่อเรา
แท็ก:
#หน่วย Smu #pxi SMU #PXI หน่วยวัดแหล่ง
Video Description:
Discover the 18V 1A PXI SMU Four Channel Sub Card DC Source Meter Unit CS402, a modular SMU solution for high-volume device testing. Featuring 4 channels per subcard and synchronized control for up to 40 channels, it reduces system costs by 50%. Ideal for LED/OLED aging tests and semiconductor wafer inspections.
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง 00:27

2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 26, 2025
1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 25, 2025
S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า 00:24

S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300 00:24

300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200 00:24

100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100 00:36

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025