ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น เว็บไซต์

3-สล็อต ซับการ์ด Plug-in Source Measure Unit 1003C ด้วยความน่าเชื่อถือและความสามารถในการปรับขนาดในระดับอุตสาหกรรม

อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
Keyword: อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
ติดต่อเรา
แท็ก:
#หน่วย Smu #pxi SMU #PXI หน่วยวัดแหล่ง
Video Description:
Discover the 3-Slots Sub Cards Plug-in Source Measure Unit 1003C, a professional-grade testing solution designed for high-performance applications. With modular scalability and industrial-grade reliability, it's perfect for scientific research and industrial validation. Experience efficient, plug-and-play operation for multi-domain testing tasks.
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
10V/500mA หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI401 00:24

10V/500mA หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI401
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 25, 2025
10V/500mA สี่ช่อง Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS401 00:26

10V/500mA สี่ช่อง Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS401
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา 00:24

เครื่องวัดแหล่งแรงกระแทก 100V/1A/10A P200 สําหรับการประกอบลักษณะของครึ่งตัวนํา
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V 00:24

หน่วยวัดแหล่งแรงกระแสแรงแรงแรงสูง HCP100 ด้วยแรงกระแสแรงกระแสแรงออกสูงสุด 30A และแรงดันแรงออกสูงสุด 50V
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100 00:36

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์ 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025