ช่องวีดีโอของจีน Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
ติดต่อเรา
บ้าน วิดีโอ รายการเล่น เว็บไซต์

10V/500mA สี่ช่อง Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS401

หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
ติดต่อเรา
Video Description:
ทีมงานของเราจะอธิบายให้คุณทราบว่าหน่วยวัด DC Source ของการ์ดย่อยสี่ช่อง CS401 ทำงานอย่างไรในสถานการณ์การทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ทั่วไป ในวิดีโอนี้ คุณจะเห็นการสาธิตโดยละเอียดเกี่ยวกับความสามารถ 10V/500mA เรียนรู้เกี่ยวกับการบูรณาการเข้ากับระบบการทดสอบ และค้นพบว่าเครื่องมือที่มีความแม่นยำนี้ให้การวัดประสิทธิภาพทางไฟฟ้าที่แม่นยำสำหรับวัสดุเซมิคอนดักเตอร์ เวเฟอร์ และอุปกรณ์ได้อย่างไร
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง 00:27

2 MS/s การ์ดรับข้อมูลหลายช่อง A400B Board ความเร็วสูง
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 26, 2025
1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

1000A/18V ไฟฟ้าปริมาณสูง HCPL100 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 25, 2025
S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า 00:24

S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW การทดสอบพลังงานสูง แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์ HCPL060
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300 00:24

300V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS300
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402 00:24

10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200 00:24

100V/1A ช่องเดียว Sub Card แหล่ง DC หน่วยวัด CS200
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
February 24, 2025
20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002 00:24

20A CW/20A QCW การทดสอบพลังงานสูง ไลเซอร์ไฟฟ้า HCPL002
การทดสอบ แหล่งไฟฟ้าเลเซอร์
February 25, 2025
เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100 00:36

เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test 00:24

พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025