10V / 1A หน่วยวัดแหล่งแรงกระแทกสับการ์ดสี่ช่อง CBI402
พลังงานต่อช่องทาง เหมาะสําหรับการใช้งานขนาดสูง เช่น การตรวจสอบอุปกรณ์พลังงาน และการทดสอบโวฟเวอร์หลายเครื่องสํารวจ ยินดีต้อนรับสู่เว็บไซต์ของเรา
อุปกรณ์ทดสอบหลายช่องทาง
-
10V 1A PXI SMU 4 ช่อง Sub Card พลัส SMU แหล่งวัดหน่วย CBI402
ติดต่อตอนนี้ -
10V 500mA PXI แหล่งหน่วยวัด Sub Card พลัส PXI SMU หน่วย CBI401
ติดต่อตอนนี้ -
18V 1A สี่ช่อง Sub Card แรงกระแทกแหล่งวัดหน่วย CBI403 SMU การวัด
ติดต่อตอนนี้ -
18V 1A PXI SMU สี่ช่อง Sub Card DC แหล่งวัดหน่วย CS402
ติดต่อตอนนี้ -
Sub Card PXI SMU Unit 10V 200mA สําหรับการทดสอบอัตราการทํางานสูงในสภาพแวดล้อมปานกลาง
ติดต่อตอนนี้
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
30V / 1A / 10A การทดสอบครึ่งประสาท การดําเนินงานสี่สี่แควดาน เครื่องวัดแหล่งกระแทก P100
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025