เครื่องวิเคราะห์ปารามิเตอร์ครึ่งประสาท 1200V/100A SPA6100
นําเสนอ SPA6100 Semiconductor Parameter Analyzer ที่ให้ความแม่นยําสูง ระดับการวัดที่กว้างขวาง ความยืดหยุ่นอย่างรวดเร็ว และความเข้ากันได้อย่างแข็งแรงรองรับการทดสอบพร้อมกันของกระแสไฟฟ้าปันทิป, ความจุ-แรงดันและลื่น I-V คุณลักษณะภายใต้สภาพกระแสไฟฟ้าสูง/แรงดันสูง, กับระยะความจุ 300mV ~ 1200V, 10nA ~ 100A ระยะกระแสไฟฟ้า, และ 0.1%00.03% ความแม่นยํา ยินดีต้อนรับเข้าชมเว็บไซต์ของเรา!
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
-
1200V/100A เครื่องวิเคราะห์พาราเมตรครึ่งตัวนํา SPA6100 ระบบทดสอบครึ่งตัวนํา
ติดต่อตอนนี้ -
ระบบทดสอบ C-V ของอุปกรณ์ครึ่งนํา 10Hz-1MHz
ติดต่อตอนนี้ -
ระบบทดสอบเซ็นเซอร์กระแส 1000A CTMS อุปกรณ์ทดสอบครึ่งตัวนํา
ติดต่อตอนนี้ -
LDBI ระบบทดสอบครึ่งตัวนําแบบเลเซอร์เก่า ระบบทดสอบหลายช่อง
ติดต่อตอนนี้ -
10kV/6000A Power Device Analyzer การทดสอบสแตตติก PMST สําหรับ Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semiconductor
ติดต่อตอนนี้
วิดีโอที่เกี่ยวข้อง
LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System ระบบการเก่าด้วยเลเซอร์พลังงานสูง
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST สําหรับ MOSFET BJT IGBT และ SiC GaN เซมคอนดักเตอร์
ระบบการทดสอบครึ่งตัวนํา
February 26, 2025
พลังงานไฟฟ้าปริมาณแรงแรงสูง 300A/30V HCPL030 สําหรับ SiC/IGBT/GaN HEMT Test
พลังงานไฟฟ้าปัจจุบันสูง
February 25, 2025
30V / 1A / 10A การทดสอบครึ่งประสาท การดําเนินงานสี่สี่แควดาน เครื่องวัดแหล่งกระแทก P100
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
100V/100A หน่วยวัดแหล่งกระแทกกระแสไฟฟ้าแรงสูง HCP300 สําหรับ IGBT
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025
เครื่องวัดแหล่งไฟฟ้าแบบสองช่อง 300V/30A DP300B สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้าต่าง ๆ
เครื่องวัดแหล่งช่องสอง
February 24, 2025
S300 หน่วยวัดแหล่งไฟฟ้าแบบ DC 300V/1A สําหรับการทดสอบคุณสมบัติไฟฟ้า
หน่วยวัดแหล่งที่มา
February 24, 2025